Journal Of Electronic Testing-theory And Applications雜志簡介
Journal Of Electronic Testing-theory And Applications是由Springer US出版商主辦的工程技術領域的專業學術期刊，自1990年創刊以來，一直以高質量的內容贏得業界的尊重。該期刊擁有正式的刊號（ISSN：0923-8174，E-ISSN：1573-0727），出版周期Bimonthly，其出版地區設在UNITED STATES。該期刊的核心使命旨在推動工程技術專業及ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC學科界的教育研究與實踐經驗的交流，發表同行有創見的學術論文，提倡學術爭鳴，激發學術創新，開展國際間學術交流，為工程技術領域的發展注入活力。
該期刊文章自引率0.1111...，開源內容占比0.047，出版撤稿占比0，OA被引用占比0.0092...，讀者群體主要包括工程技術的專業人員，研究生、本科生以及工程技術領域愛好者，這些讀者群體來自全球各地，具有廣泛的學術背景和興趣。Journal Of Electronic Testing-theory And Applications已被國際權威學術數據庫“ SCIE（Science Citation Index Expanded） ”收錄，方便全球范圍內的學者和研究人員檢索和引用，有助于推動ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC領域的研究進展和創新發展。
CiteScore（2024年最新版）
- CiteScore：2
- SJR：0.271
- SNIP：0.518
| 學科類別 |
分區 |
排名 |
百分位 |
|
大類：Engineering
小類：Electrical and Electronic Engineering
|
Q3
|
495 / 797
|
|
CiteScore: 這一創新指標力求提供更為全面且精確的期刊評估，打破了過去僅依賴單一指標如影響因子的局限。它通過綜合廣泛的引用數據，跨越多個學科領域，從而確保了更高的透明度和開放性。作為Scopus中一系列期刊指標的重要組成部分，包括SNIP（源文檔標準化影響）、SJR（SCImago雜志排名）、引用文檔計數以及引用百分比。Scopus整合以上指標，幫助研究者深入了解超過22,220種論著的引用情況。您可在Scopus Joumal Metrics website了解各個指標的詳細信息。
Journal Of Electronic Testing-theory And Applications中科院分區表
中科院分區 2023年12月升級版
| 大類學科 |
分區 |
小類學科 |
分區 |
Top期刊 |
綜述期刊 |
| 工程技術 |
4區 |
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC
工程：電子與電氣
|
4區
|
否 |
否 |
中科院分區 2022年12月升級版
| 大類學科 |
分區 |
小類學科 |
分區 |
Top期刊 |
綜述期刊 |
| 工程技術 |
4區 |
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC
工程：電子與電氣
|
4區
|
否 |
否 |
中科院分區 2021年12月舊的升級版
| 大類學科 |
分區 |
小類學科 |
分區 |
Top期刊 |
綜述期刊 |
| 工程技術 |
4區 |
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC
工程：電子與電氣
|
4區
|
否 |
否 |
中科院分區 2021年12月基礎版
| 大類學科 |
分區 |
小類學科 |
分區 |
Top期刊 |
綜述期刊 |
| 工程技術 |
4區 |
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC
工程：電子與電氣
|
4區
|
否 |
否 |
中科院分區 2021年12月升級版
| 大類學科 |
分區 |
小類學科 |
分區 |
Top期刊 |
綜述期刊 |
| 工程技術 |
4區 |
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC
工程：電子與電氣
|
4區
|
否 |
否 |
中科院分區 2020年12月舊的升級版
| 大類學科 |
分區 |
小類學科 |
分區 |
Top期刊 |
綜述期刊 |
| 工程技術 |
4區 |
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC
工程：電子與電氣
|
4區
|
否 |
否 |
WOS期刊JCR分區（2023-2024年最新版）
| 按JIF指標學科分區 |
收錄子集 |
分區 |
排名 |
百分位 |
| 學科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC |
SCIE |
Q4 |
278 / 352 |
|
| 按JCI指標學科分區 |
收錄子集 |
分區 |
排名 |
百分位 |
| 學科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC |
SCIE |
Q4 |
293 / 354 |
|
JCR（Journal Citation Reports）分區，也被稱為JCR期刊分區，是由湯森路透公司（現在屬于科睿唯安公司）制定的一種國際通用和公認的期刊分區標準。JCR分區基于SCI數據庫，按照期刊的影響因子進行排序，按照類似等分的方式將期刊劃分為四個區：Q1、Q2、Q3和Q4。需要注意的是，JCR分區的標準與中科院JCR期刊分區（又稱分區表、分區數據）存在不同之處。例如，兩者的分區數量不同，JCR分為四個區，而中科院分區則分為176個學科，每個學科又按照影響因子高低分為四個區。此外，兩者的影響因子取值范圍也存在差異。
歷年發文數據
| 年份 |
年發文量 |
| 2014 |
58 |
| 2015 |
44 |
| 2016 |
57 |
| 2017 |
55 |
| 2018 |
54 |
| 2019 |
62 |
| 2020 |
55 |
| 2021 |
47 |
| 2022 |
46 |
| 2023 |
43 |
期刊互引關系
| 被他刊引用情況 |
| 期刊名稱 |
引用次數 |
| J ELECTRON TEST |
30 |
| IEEE ACCESS |
21 |
| IEEE T COMPUT AID D |
16 |
| ANALOG INTEGR CIRC S |
11 |
| IEEE T VLSI SYST |
10 |
| IET COMPUT DIGIT TEC |
9 |
| MICROELECTRON J |
9 |
| SENSORS-BASEL |
9 |
| MICROELECTRON RELIAB |
8 |
| INTEGRATION |
7 |
| 引用他刊情況 |
| 期刊名稱 |
引用次數 |
| IEEE T COMPUT AID D |
62 |
| IEEE T VLSI SYST |
58 |
| IEEE T COMPUT |
35 |
| IEEE T NUCL SCI |
34 |
| J ELECTRON TEST |
30 |
| IEEE DES TEST |
29 |
| IEEE J SOLID-ST CIRC |
29 |
| IEEE T MICROW THEORY |
21 |
| MICROELECTRON RELIAB |
19 |
| IEEE T CIRCUITS-I |
15 |
若用戶需要出版服務，請聯系出版商：SPRINGER, VAN GODEWIJCKSTRAAT 30, DORDRECHT, NETHERLANDS, 3311 GZ。
