Mapan-journal Of Metrology Society Of India雜志簡介
Mapan-journal Of Metrology Society Of India是由Springer India出版商主辦的工程技術領域的專業學術期刊，自2009年創刊以來，一直以高質量的內容贏得業界的尊重。該期刊擁有正式的刊號（ISSN：0970-3950，E-ISSN：0974-9853），出版周期Quarterly，其出版地區設在INDIA。該期刊的核心使命旨在推動工程技術專業及INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION學科界的教育研究與實踐經驗的交流，發表同行有創見的學術論文，提倡學術爭鳴，激發學術創新，開展國際間學術交流，為工程技術領域的發展注入活力。
該期刊文章自引率0.2，開源內容占比0.0314，出版撤稿占比0，OA被引用占比0，讀者群體主要包括工程技術的專業人員，研究生、本科生以及工程技術領域愛好者，這些讀者群體來自全球各地，具有廣泛的學術背景和興趣。Mapan-journal Of Metrology Society Of India已被國際權威學術數據庫“ SCIE（Science Citation Index Expanded） ”收錄，方便全球范圍內的學者和研究人員檢索和引用，有助于推動INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION領域的研究進展和創新發展。
CiteScore（2024年最新版）
- CiteScore：2.3
- SJR：0.263
- SNIP：0.61
| 學科類別 |
分區 |
排名 |
百分位 |
|
大類：Physics and Astronomy
小類：Physics and Astronomy (miscellaneous)
|
Q2
|
40 / 81
|
|
CiteScore: 這一創新指標力求提供更為全面且精確的期刊評估，打破了過去僅依賴單一指標如影響因子的局限。它通過綜合廣泛的引用數據，跨越多個學科領域，從而確保了更高的透明度和開放性。作為Scopus中一系列期刊指標的重要組成部分，包括SNIP（源文檔標準化影響）、SJR（SCImago雜志排名）、引用文檔計數以及引用百分比。Scopus整合以上指標，幫助研究者深入了解超過22,220種論著的引用情況。您可在Scopus Joumal Metrics website了解各個指標的詳細信息。
Mapan-journal Of Metrology Society Of India中科院分區表
中科院分區 2023年12月升級版
| 大類學科 |
分區 |
小類學科 |
分區 |
Top期刊 |
綜述期刊 |
| 工程技術 |
4區 |
INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION
儀器儀表
PHYSICS, APPLIED
物理：應用
|
4區
4區
|
否 |
否 |
中科院分區 2022年12月升級版
| 大類學科 |
分區 |
小類學科 |
分區 |
Top期刊 |
綜述期刊 |
| 工程技術 |
4區 |
INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION
儀器儀表
PHYSICS, APPLIED
物理：應用
|
4區
4區
|
否 |
否 |
中科院分區 2021年12月舊的升級版
| 大類學科 |
分區 |
小類學科 |
分區 |
Top期刊 |
綜述期刊 |
| 工程技術 |
4區 |
INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION
儀器儀表
PHYSICS, APPLIED
物理：應用
|
4區
4區
|
否 |
否 |
中科院分區 2021年12月基礎版
| 大類學科 |
分區 |
小類學科 |
分區 |
Top期刊 |
綜述期刊 |
| 工程技術 |
4區 |
INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION
儀器儀表
PHYSICS, APPLIED
物理：應用
|
4區
4區
|
否 |
否 |
中科院分區 2021年12月升級版
| 大類學科 |
分區 |
小類學科 |
分區 |
Top期刊 |
綜述期刊 |
| 工程技術 |
4區 |
INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION
儀器儀表
PHYSICS, APPLIED
物理：應用
|
4區
4區
|
否 |
否 |
中科院分區 2020年12月舊的升級版
| 大類學科 |
分區 |
小類學科 |
分區 |
Top期刊 |
綜述期刊 |
| 工程技術 |
4區 |
INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION
儀器儀表
PHYSICS, APPLIED
物理：應用
|
4區
4區
|
否 |
否 |
WOS期刊JCR分區（2023-2024年最新版）
| 按JIF指標學科分區 |
收錄子集 |
分區 |
排名 |
百分位 |
| 學科：INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION |
SCIE |
Q4 |
62 / 76 |
|
| 學科：PHYSICS, APPLIED |
SCIE |
Q4 |
157 / 179 |
|
| 按JCI指標學科分區 |
收錄子集 |
分區 |
排名 |
百分位 |
| 學科：INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION |
SCIE |
Q4 |
68 / 76 |
|
| 學科：PHYSICS, APPLIED |
SCIE |
Q4 |
152 / 179 |
|
JCR（Journal Citation Reports）分區，也被稱為JCR期刊分區，是由湯森路透公司（現在屬于科睿唯安公司）制定的一種國際通用和公認的期刊分區標準。JCR分區基于SCI數據庫，按照期刊的影響因子進行排序，按照類似等分的方式將期刊劃分為四個區：Q1、Q2、Q3和Q4。需要注意的是，JCR分區的標準與中科院JCR期刊分區（又稱分區表、分區數據）存在不同之處。例如，兩者的分區數量不同，JCR分為四個區，而中科院分區則分為176個學科，每個學科又按照影響因子高低分為四個區。此外，兩者的影響因子取值范圍也存在差異。
歷年發文數據
| 年份 |
年發文量 |
| 2014 |
34 |
| 2015 |
37 |
| 2016 |
35 |
| 2017 |
41 |
| 2018 |
51 |
| 2019 |
57 |
| 2020 |
74 |
| 2021 |
92 |
| 2022 |
89 |
| 2023 |
98 |
期刊互引關系
| 被他刊引用情況 |
| 期刊名稱 |
引用次數 |
| MAPAN-J METROL SOC I |
136 |
| REV SCI INSTRUM |
8 |
| MEASUREMENT |
7 |
| ACCREDIT QUAL ASSUR |
5 |
| J ELECTRON MATER |
5 |
| J INTELL FUZZY SYST |
4 |
| MICROCHEM J |
4 |
| MICROSYST TECHNOL |
4 |
| SENSORS-BASEL |
4 |
| APPL SCI-BASEL |
3 |
| 引用他刊情況 |
| 期刊名稱 |
引用次數 |
| MAPAN-J METROL SOC I |
136 |
| METROLOGIA |
53 |
| ATMOS ENVIRON |
40 |
| MEASUREMENT |
22 |
| IEEE T INSTRUM MEAS |
21 |
| ATMOS CHEM PHYS |
17 |
| CURR SCI INDIA |
17 |
| J GEOPHYS RES-ATMOS |
16 |
| IEEE T POWER DELIVER |
14 |
| CLIN CHEM |
13 |
若用戶需要出版服務，請聯系出版商：METROLOGY SOC INDIA, NPL PREMISES, DR K S KRISHNAN MARG, NEW DELHI, INDIA, 110 012。
