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    Ieee Transactions On Information Forensics And Security

    關于信息取證和安全的 Ieee Transactions
    國際簡稱:IEEE T INF FOREN SEC

    Ieee Transactions On Information Forensics And Security

    SCIE

    按雜志級別劃分: 中科院1區 中科院2區 中科院3區 中科院4區

    • 1區 中科院分區
    • Q1 JCR分區
    • 420 年發文量
    • 100.00% 研究類文章占比
    • 11.31% Gold OA文章占比
    ISSN:1556-6013
    創刊時間:2006
    是否預警:否
    E-ISSN:1556-6021
    出版地區:UNITED STATES
    是否OA:未開放
    出版語言:English
    出版周期:Quarterly
    影響因子:6.3
    出版商:Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.
    審稿周期: 約6.8個月
    CiteScore:14.4
    H-index:95
    出版國人文章占比:0.28
    開源占比:0.134
    文章自引率:0.0735...

    Ieee Transactions On Information Forensics And Security雜志簡介

    Ieee Transactions On Information Forensics And Security是由Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.出版商主辦的計算機科學領域的專業學術期刊,自2006年創刊以來,一直以高質量的內容贏得業界的尊重。該期刊擁有正式的刊號(ISSN:1556-6013,E-ISSN:1556-6021),出版周期Quarterly,其出版地區設在UNITED STATES。該期刊的核心使命旨在推動計算機科學專業及COMPUTER SCIENCE, THEORY & METHODS學科界的教育研究與實踐經驗的交流,發表同行有創見的學術論文,提倡學術爭鳴,激發學術創新,開展國際間學術交流,為計算機科學領域的發展注入活力。

    該期刊文章自引率0.0735...,開源內容占比0.134,出版撤稿占比0,OA被引用占比0,讀者群體主要包括計算機科學的專業人員,研究生、本科生以及計算機科學領域愛好者,這些讀者群體來自全球各地,具有廣泛的學術背景和興趣。Ieee Transactions On Information Forensics And Security已被國際權威學術數據庫“ SCIE(Science Citation Index Expanded) ”收錄,方便全球范圍內的學者和研究人員檢索和引用,有助于推動COMPUTER SCIENCE, THEORY & METHODS領域的研究進展和創新發展。

    CiteScore(2024年最新版)

    • CiteScore:14.4
    • SJR:2.89
    • SNIP:2.546
    學科類別 分區 排名 百分位
    大類:Engineering 小類:Safety, Risk, Reliability and Quality Q1 4 / 207

    98%

    大類:Engineering 小類:Computer Networks and Communications Q1 16 / 395

    96%

    CiteScore: 這一創新指標力求提供更為全面且精確的期刊評估,打破了過去僅依賴單一指標如影響因子的局限。它通過綜合廣泛的引用數據,跨越多個學科領域,從而確保了更高的透明度和開放性。作為Scopus中一系列期刊指標的重要組成部分,包括SNIP(源文檔標準化影響)、SJR(SCImago雜志排名)、引用文檔計數以及引用百分比。Scopus整合以上指標,幫助研究者深入了解超過22,220種論著的引用情況。您可在Scopus Joumal Metrics website了解各個指標的詳細信息。

    CiteScore分區值與影響因子值數據對比

    Ieee Transactions On Information Forensics And Security中科院分區表

    中科院分區 2023年12月升級版
    大類學科 分區 小類學科 分區 Top期刊 綜述期刊
    計算機科學 1區 COMPUTER SCIENCE, THEORY & METHODS 計算機:理論方法 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 1區 2區
    中科院分區 2022年12月升級版
    大類學科 分區 小類學科 分區 Top期刊 綜述期刊
    計算機科學 1區 COMPUTER SCIENCE, THEORY & METHODS 計算機:理論方法 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 1區 1區
    中科院分區 2021年12月舊的升級版
    大類學科 分區 小類學科 分區 Top期刊 綜述期刊
    計算機科學 1區 COMPUTER SCIENCE, THEORY & METHODS 計算機:理論方法 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 1區 1區
    中科院分區 2021年12月基礎版
    大類學科 分區 小類學科 分區 Top期刊 綜述期刊
    工程技術 2區 COMPUTER SCIENCE, THEORY & METHODS 計算機:理論方法 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 1區 2區
    中科院分區 2021年12月升級版
    大類學科 分區 小類學科 分區 Top期刊 綜述期刊
    計算機科學 1區 COMPUTER SCIENCE, THEORY & METHODS 計算機:理論方法 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 1區 1區
    中科院分區 2020年12月舊的升級版
    大類學科 分區 小類學科 分區 Top期刊 綜述期刊
    計算機科學 1區 COMPUTER SCIENCE, THEORY & METHODS 計算機:理論方法 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 1區 1區
    中科院分區表歷年分布趨勢圖

    WOS期刊JCR分區(2023-2024年最新版)

    按JIF指標學科分區 收錄子集 分區 排名 百分位
    學科:COMPUTER SCIENCE, THEORY & METHODS SCIE Q1 13 / 143

    91.3%

    學科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q1 42 / 352

    88.2%

    按JCI指標學科分區 收錄子集 分區 排名 百分位
    學科:COMPUTER SCIENCE, THEORY & METHODS SCIE Q1 12 / 143

    91.96%

    學科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q1 28 / 354

    92.23%

    JCR(Journal Citation Reports)分區,也被稱為JCR期刊分區,是由湯森路透公司(現在屬于科睿唯安公司)制定的一種國際通用和公認的期刊分區標準。JCR分區基于SCI數據庫,按照期刊的影響因子進行排序,按照類似等分的方式將期刊劃分為四個區:Q1、Q2、Q3和Q4。需要注意的是,JCR分區的標準與中科院JCR期刊分區(又稱分區表、分區數據)存在不同之處。例如,兩者的分區數量不同,JCR分為四個區,而中科院分區則分為176個學科,每個學科又按照影響因子高低分為四個區。此外,兩者的影響因子取值范圍也存在差異。

    歷年發文數據

    年份 年發文量
    2014 144
    2015 202
    2016 198
    2017 223
    2018 224
    2019 242
    2020 287
    2021 387
    2022 281
    2023 420

    期刊互引關系

    被他刊引用情況
    期刊名稱 引用次數
    IEEE ACCESS 1519
    MULTIMED TOOLS APPL 653
    IEEE T INF FOREN SEC 589
    IEEE INTERNET THINGS 230
    INFORM SCIENCES 175
    SENSORS-BASEL 175
    FUTURE GENER COMP SY 131
    IEEE COMMUN SURV TUT 117
    J VIS COMMUN IMAGE R 116
    SECUR COMMUN NETW 106
    引用他刊情況
    期刊名稱 引用次數
    IEEE T INF FOREN SEC 589
    IEEE T INFORM THEORY 268
    IEEE T PATTERN ANAL 189
    IEEE T IMAGE PROCESS 166
    IEEE T WIREL COMMUN 152
    PATTERN RECOGN 123
    IEEE T COMMUN 94
    IEEE T VEH TECHNOL 92
    IEEE J SEL AREA COMM 80
    IEEE SIGNAL PROC LET 66
    若用戶需要出版服務,請聯系出版商:IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC, 445 HOES LANE, PISCATAWAY, USA, NJ, 08855-4141。

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